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NI PXI-4065 6½-Digit ±300V PXI Digital Multimeter with 10/s Range Changes

전자 시험 기기
November 27, 2025
카테고리 연결: 전자 시험 기기
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태그:
#국가 기구 pxi #PXI 디지털 멀티미터 #전자 시험 기기
간략히: In this video, we provide an informative overview of the NI PXI-4065 6½-Digit Digital Multimeter. You will see a detailed demonstration of its high-speed measurement capabilities, including its rapid 10/s range changes and fast auto-ranging performance for DC voltage, current, and resistance. We also showcase its low trigger latency and high trigger rate in a practical PXI test setup, giving you clear insights into its operation and integration.
관련 제품 기능:
  • Performs rapid range or function changes at a speed of 10 per second for efficient testing.
  • Offers fast auto-ranging times of 200 ms for DC voltage and current measurements.
  • Provides quick auto-ranging for resistance measurements with a time of 250 ms.
  • Features extremely low trigger latency of less than 1 microsecond for precise control.
  • Supports a high maximum trigger rate of 2.5 kHz for demanding applications.
  • Delivers 6½-digit resolution for highly accurate measurements.
  • Operates with a wide voltage range of ±300V for versatile use.
  • Designed as a PXI module for integration into automated test systems.
질문과대답:
  • How fast can the NI PXI-4065 change measurement ranges?
    The NI PXI-4065 can change ranges or functions at a rate of 10 per second, enabling quick adaptation to varying signal levels during testing.
  • What are the auto-ranging times for DC voltage and current?
    The auto-ranging time for both DC voltage and DC current measurements is 200 ms, allowing for fast and automatic selection of the appropriate measurement range.
  • What is the trigger latency of this digital multimeter?
    The trigger latency is less than 1 microsecond, ensuring minimal delay between a trigger command and the start of a measurement for high-speed applications.
  • What is the maximum trigger rate supported by the NI PXI-4065?
    It supports a maximum trigger rate of 2.5 kHz, making it suitable for high-speed automated test systems that require frequent measurement initiation.
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