bedrijfsnieuws over Micro-ontladingseffect detectiesysteem

Overzicht van de oplossing
De generatie van micro-ontladingseffect is een niet-lineair proces, en wanneer het signaal door de componenten wordt verzonden waar micro-ontlading optreedt, veroorzaakt dit niet-lineaire veranderingen in het signaal, wat resulteert in veranderingen in de amplitude- en faseparameters, ruisparameters, frequentiespectrumparameters en S-parameters van de verzonden en gereflecteerde signalen. Micro-ontladingseffectdetectie is gebaseerd op real-time monitoring van de veranderingen in verschillende signaalparameters. Het hoogvermogen micro-ontladingseffectdetectiesysteem bestaat voornamelijk uit zes delen: een speciaal testsysteem, een hoogvermogen solid-state eindversterker, een thermische vacuümringvormsysteem, een vrije elektronenstralingsbron, een hoogvermogen transmissielink, een systeemcontroller en software. Het systeem kan verschillende parameters zoals vermogen en frequentiespectrum registreren tijdens het testproces en beoordeelt uitgebreid of micro-ontlading optreedt op basis van de veranderingen in verschillende parameters. Wanneer micro-ontlading optreedt, kan het effectief de hoogvermogen signaalbron en voeding uitschakelen om schade aan het detectiesysteem zelf te voorkomen. Uiteindelijk kan het stabiel en effectief het micro-ontladingseffect van het product detecteren.

Kenmerken
Realiseer volledige dekking van passieve componenten met enkele en meerdere dragers, evenals actieve hoogvermogen microgolf- en millimetergolfcomponenten en -assemblages;
Realiseer hoogvermogen continue golf, instelbare boven- en ondervermogen pulsmodulatie excitatie output en automatische nulstelling van dual-channel microgolfsignalen;
Implementeer dynamische grafische begeleidingsoperatie tijdens het experimentele testproces, parallelle monitoring van meerdere soorten parameters, gegevensverwerking en curveweergave, en intelligente abnormale alarm;
Realiseer volledige frequentiedekking van 100MHz-50GHz, terwijl ook rekening wordt gehouden met thermisch vacuüm, vermogensweerstand, lagedrukontlading, vermogenslineariteit en passieve intermodulatie detectie.