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Sonda eletro-óptica de alta velocidade da série OP com largura de banda de 33 GHz/67 GHz, tempo de subida de 6,5 ps e faixa de comprimento de onda de 1250 nm a 1600 nm

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Sonda eletro-óptica de alta velocidade da série OP com largura de banda de 33 GHz/67 GHz, tempo de subida de 6,5 ps e faixa de comprimento de onda de 1250 nm a 1600 nm

OP Series High-Speed Electro-Optic Probe with 33GHz/67GHz Bandwidth, 6.5ps Rise Time, and 1250nm~1600nm Wavelength Range
OP Series High-Speed Electro-Optic Probe with 33GHz/67GHz Bandwidth, 6.5ps Rise Time, and 1250nm~1600nm Wavelength Range OP Series High-Speed Electro-Optic Probe with 33GHz/67GHz Bandwidth, 6.5ps Rise Time, and 1250nm~1600nm Wavelength Range OP Series High-Speed Electro-Optic Probe with 33GHz/67GHz Bandwidth, 6.5ps Rise Time, and 1250nm~1600nm Wavelength Range OP Series High-Speed Electro-Optic Probe with 33GHz/67GHz Bandwidth, 6.5ps Rise Time, and 1250nm~1600nm Wavelength Range OP Series High-Speed Electro-Optic Probe with 33GHz/67GHz Bandwidth, 6.5ps Rise Time, and 1250nm~1600nm Wavelength Range

Imagem Grande :  Sonda eletro-óptica de alta velocidade da série OP com largura de banda de 33 GHz/67 GHz, tempo de subida de 6,5 ps e faixa de comprimento de onda de 1250 nm a 1600 nm

Detalhes do produto:
Lugar de origem: China
Marca: Other Brands
Número do modelo: Série OP
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: 1
Preço: 10000
Tempo de entrega: cerca de 15 dias
Termos de pagamento: L/C,D/P,D/A,T/T,Western Union,MoneyGram
Habilidade da fonte: 20 peças/dia
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Sonda eletro-óptica de alta velocidade da série OP com largura de banda de 33 GHz/67 GHz, tempo de subida de 6,5 ps e faixa de comprimento de onda de 1250 nm a 1600 nm

descrição
Largura de banda ((-3dB): 33 GHz/67 GHz Tempo de elevação: 6,5ps
Faixa de comprimento de onda: 1250nm~1600nm Potência Linear de Entrada Máxima: 4 mW
Potência máxima de entrada não destrutiva: 8MW Interface óptica de entrada: FC/PC
Destacar:

Proba eletro-óptica de largura de banda de 33 GHz/67 GHz

,

6.5ps Tempo de subida Proba de alta velocidade

,

1250 nm~1600 nm Faixa de comprimento de onda OP Série Probe

Sonda Eletro-Óptica de Alta Velocidade Série OP
Sonda eletro-óptica de alta velocidade da série OP com largura de banda de 33 GHz/67 GHz, tempo de subida de 6,5 ps e faixa de comprimento de onda de 1250 nm a 1600 nm 0
A Sonda Eletro-Óptica de Alta Velocidade Série OP representa tecnologia de ponta para aplicações de teste e medição eletrônica de precisão. Projetada para desempenho superior em ambientes industriais exigentes, esta sonda avançada oferece precisão e confiabilidade excepcionais para análise de sinais de alta velocidade.

etiqueta:

instrumentos nacionais pxi,

Multímetro Digital PXI,

Instrumento de ensaio eletrónico

Contacto
Shenzhen Jinxi Boyuan Technology Co., Ltd.

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Telefone: +86 15626514602

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