บล็อก เกี่ยวกับ Marvin Test Solutions เปิดตัว GX3104 PXI SMU สำหรับการทดสอบที่แม่นยำ

ในการทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์สมัยใหม่ การควบคุมและการวัดแรงดันและกระแสที่แม่นยำเป็นองค์ประกอบสำคัญของการประเมินอุปกรณ์ โดยเฉพาะอย่างยิ่งในการพัฒนาอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ การผลิต และการทดสอบระดับระบบ หน่วยวัดแหล่งที่มา (SMU) ประสิทธิภาพสูงสามารถเพิ่มประสิทธิภาพและความแม่นยำในการทดสอบได้อย่างมาก หน่วยวัดแหล่งกำเนิด PXI แบบสี่ช่อง GX3104 จาก Marvin Test Solutions นำเสนอโซลูชันดังกล่าว โดยผสมผสานความแม่นยำสูง ฟังก์ชันการทำงานที่หลากหลาย และข้อดีของการบูรณาการของแพลตฟอร์ม PXI

GX3104 เป็นโมดูล 3U PXI ที่ให้ช่อง SMU อิสระสี่ช่องพร้อมความสามารถภาคพื้นดินทั่วไป แต่ละช่องรองรับการทำงานแบบสี่ควอแดรนท์ โดยให้เอาต์พุตแรงดันไฟฟ้า ±20V และเอาต์พุตกระแส ±1A (โดยช่อง 1 รองรับ 1A ในขณะที่ช่อง 2-4 รองรับ 500mA โดยมีขีดจำกัดกระแสเอาต์พุตโมดูลรวมอยู่ที่ 1A) การออกแบบนี้ช่วยให้สามารถจัดการข้อกำหนดการฉีดและการวัดแรงดันไฟฟ้าทั้งเชิงบวกและเชิงลบและกระแสต่างๆ ได้อย่างยืดหยุ่น

เพื่อความแม่นยำ GX3104 ได้รวมตัวแปลงแอนะล็อกเป็นดิจิทัล (ADC) 24 บิต และตัวแปลงดิจิทัลเป็นแอนะล็อก (DAC) 18 บิต ADC 24 บิตให้ความละเอียดที่ตั้งโปรแกรมได้ตั้งแต่ 18 ถึง 24 บิต ช่วยให้จับสัญญาณที่วัดได้อย่างละเอียด DAC 18 บิตรับประกันความแม่นยำเอาต์พุตสำหรับแหล่งแรงดันและกระแส นอกจากนี้ โมดูลยังมีช่วงการวัดกระแสไฟฟ้าเจ็ดช่วง ครอบคลุมสเปกตรัมกว้างตั้งแต่ ±2.5 µA ถึง ±1 A ซึ่งรองรับความต้องการในการทดสอบตั้งแต่สัญญาณอ่อนไปจนถึงอุปกรณ์ที่มีกำลังสูงกว่า

เพื่อให้บรรลุความแม่นยำในการวัดที่สูงขึ้น โดยเฉพาะการวัดกระแสไฟฟ้าระดับต่ำ แต่ละช่องเอาต์พุตของ GX3104 มีการเชื่อมต่อเอาต์พุต SMU การเชื่อมต่อการตรวจจับเคลวิน (สี่สาย) และการเชื่อมต่อการ์ดป้องกันแบบขับเคลื่อน การเชื่อมต่อแบบเคลวินกำจัดข้อผิดพลาดในการวัดที่เกิดจากความต้านทานของสายเคเบิลได้อย่างมีประสิทธิภาพ ในขณะที่การเชื่อมต่อแบบป้องกันจะช่วยลดกระแสรั่วไหล ทำให้ได้ผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้มากขึ้นสำหรับการวัดกระแสที่ต่ำมาก

ความสามารถอันทรงพลังของ GX3104 ได้รับการเสริมด้วยการสนับสนุนซอฟต์แวร์ที่ครอบคลุม Marvin Test Solutions มอบ API (Application Programming Interface) และอินเทอร์เฟซผู้ใช้ (UI) ที่มีคุณสมบัติครบถ้วนสำหรับโมดูล ไลบรารีซอฟต์แวร์ GXSMU มีแผงเครื่องมือเสมือน ทำให้ผู้ใช้สามารถควบคุมและตรวจสอบสถานะเครื่องมือผ่านอินเทอร์เฟซแบบกราฟิกได้โดยสังหรณ์ใจ นอกจากนี้ยังมีไลบรารีไดรเวอร์ DLL ของ Windows 32/64 บิตพร้อมเอกสารประกอบโดยละเอียดเพื่อการบูรณาการเข้ากับระบบทดสอบอัตโนมัติต่างๆ ได้อย่างง่ายดาย

เพื่อรองรับสภาพแวดล้อมการพัฒนาที่แตกต่างกัน GX3104 รองรับเครื่องมือการเขียนโปรแกรมหลักและภาษาที่หลากหลาย รวมถึง ATEasy®, LabVIEW, LabVIEW/Real-Time, C/C++, Microsoft Visual Basic®, Delphi และ Pascal ด้วยไฟล์อินเทอร์เฟซที่ให้มา นักพัฒนาสามารถรวม GX3104 เข้ากับแพลตฟอร์มทดสอบที่มีอยู่ได้อย่างราบรื่น

สำหรับผู้ใช้ Linux Marvin Test Solutions นำเสนอแพ็คเกจซอฟต์แวร์ GtLinux เพื่อให้มั่นใจถึงความเข้ากันได้กับระบบปฏิบัติการที่แตกต่างกัน ไฟล์วิธีใช้ออนไลน์ที่ครอบคลุมและคู่มือผู้ใช้ PDF ให้คำแนะนำที่สมบูรณ์ตั้งแต่การติดตั้งไปจนถึงการเขียนโปรแกรม

• การเชื่อมต่อ I/O (ต่อช่องสัญญาณ):อินพุต/เอาต์พุต SMU (2), การ์ดเคลวิน (2)
• รูปแบบ:PXI, 3U สล็อตเดี่ยว เข้ากันได้กับสล็อตไฮบริด

• ช่วงแหล่งจ่ายแรงดันไฟฟ้า:±20 โวลต์เอฟเอส
• ความแม่นยำของแหล่งจ่ายแรงดันไฟฟ้า:0.05% ของค่าที่ตั้งโปรแกรมไว้ + 2mV
• ความละเอียดแหล่งจ่ายแรงดันไฟฟ้า:18 บิต
• แรงดันขาออกและเสียงรบกวน:< 20 mV pp (แบนด์วิดท์ 20 MHz, โหลดเต็ม)
• ความละเอียดของแหล่งที่มาปัจจุบัน:18 บิต
• ช่วงแหล่งที่มาปัจจุบัน:±2.5 µA FS ถึง ±1 A FS (ช่วงทศวรรษ)

• ช่วงอุณหภูมิในการทำงาน:0 ถึง +40 °C
• ช่วงอุณหภูมิในการจัดเก็บ:-20 °C ถึง +70 °C
• การใช้พลังงาน:+12 โวลต์ 2.95 แอมป์; +5 โวลต์, 0.75 A; +3.3 โวลต์ 1.2 เอ
• ขั้วต่ออินพุต/โอ:ดีบี 25 ตัวเมีย

• การทดสอบและลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์:ตั้งแต่ทรานซิสเตอร์และไดโอดไปจนถึงวงจรรวม GX3104 สามารถทำการทดสอบพารามิเตอร์ การแสดงคุณลักษณะทางไฟฟ้า และการวิเคราะห์โหมดความล้มเหลวได้อย่างแม่นยำ
• เครื่องทดสอบอัตโนมัติ (ATE):ในฐานะส่วนประกอบสำคัญในระบบ ATE GX3104 ช่วยให้สามารถทดสอบสายการผลิตขนาดใหญ่ได้อย่างมีประสิทธิภาพ ลดรอบการทดสอบและต้นทุนการผลิต
• การทดสอบแผงวงจรและระดับระบบ:ในการทดสอบแผงวงจรและระบบที่ซับซ้อนแบบรวม GX3104 สามารถจำลองสภาวะการทำงานต่างๆ เพื่อตรวจสอบการทำงานและประสิทธิภาพของระบบ

หน่วยวัดแหล่งที่มา PXI แบบสี่ช่อง GX3104 ของ Marvin Test Solutions ซึ่งมีความแม่นยำเป็นพิเศษ ช่วงการวัดที่กว้าง การทำงานแบบสี่ควอแดรนท์ที่ยืดหยุ่น และการรองรับซอฟต์แวร์ที่แข็งแกร่ง ได้กลายเป็นเครื่องมือทดสอบความแม่นยำที่ขาดไม่ได้ในการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ การรวมระบบ ATE และการตรวจสอบระบบที่ซับซ้อน ไม่เพียงแต่เป็นไปตามข้อกำหนดการทดสอบที่เข้มงวดในปัจจุบันเท่านั้น แต่ยังเป็นรากฐานที่มั่นคงสำหรับความก้าวหน้าทางเทคโนโลยีในอนาคตอีกด้วย