Le blog À PROPOS National Instruments lance le VST Pxie5820 à 1 GHz pour des tests de signaux avancés

Dans le domaine en évolution rapide des communications électroniques, la complexité des signaux et les exigences de précision des tests continuent de croître, en particulier dans les développements technologiques de pointe tels que les communications sans fil, les systèmes radar et les applications aérospatiales. La demande d’instruments de test capables de fournir une large bande passante, une génération et une analyse de signaux de haute précision, associés à une programmabilité flexible, est devenue cruciale pour stimuler l’innovation technologique.

L'émetteur-récepteur de signaux vectoriels (VST) PXIe-5820 de National Instruments représente une solution complète intégrant plusieurs technologies avancées. Avec sa bande passante exceptionnelle de 1 GHz, ses puissantes capacités de traitement FPGA et sa vitesse de réglage rapide, cet instrument ouvre de nouvelles possibilités pour le test et la vérification de signaux complexes.

Produit phare de la série PXI Express de NI, le PXIe-5820 combine un numériseur I/Q hautes performances et un générateur de formes d'onde arbitraires dans un module PXIe compact à 2 emplacements. Cette approche intégrée permet aux ingénieurs de réaliser l'ensemble du flux de travail, de la génération du signal à l'analyse de la réception, sur une seule plateforme, simplifiant considérablement la construction du système de test et améliorant l'efficacité opérationnelle.

La bande passante de fréquence de 1 GHz de l'instrument couvre les bandes de communication actuelles et futures, répondant aux besoins des applications à large bande passante telles que la 5G NR et le Wi-Fi 6E. Plus important encore, il prend en charge les signaux modulés I/Q complexes, permettant une simulation et une analyse précises de divers schémas de modulation avancés afin de répondre aux exigences strictes en matière d'authenticité et de précision des signaux dans la recherche et le développement.

Le PXIe-5820 se distingue par l'intégration de plusieurs technologies clés. Son numériseur I/Q haut débit intégré offre d'excellents taux d'échantillonnage et une excellente résolution pour capturer les caractéristiques détaillées des signaux à grande vitesse. Simultanément, le générateur de formes d'onde arbitraires I/Q à large bande peut produire des signaux de test très flexibles et diversifiés, créant ainsi des environnements de fonctionnement réalistes pour les appareils testés (DUT).

Ces capacités sont coordonnées via un module FPGA hautes performances programmable par l'utilisateur. Cette intégration FPGA fournit au PXIe-5820 de robustes capacités de traitement du signal en temps réel, permettant aux utilisateurs de développer des algorithmes de traitement du signal personnalisés pour des applications spécifiques. Cela permet des fonctions avancées telles que la démodulation du signal RF en temps réel et la génération dynamique de signaux d'interférence, qui sont particulièrement utiles pour les scénarios de recherche nécessitant une itération rapide et des tests personnalisés.

Le PXIe-5820 excelle dans plusieurs domaines de performances critiques qui déterminent l'efficacité des tests. Son générateur de signaux intégré atteint un temps de réglage typique de seulement 0,38 millisecondes, permettant une commutation rapide entre les fréquences cibles lors de tests de séquences multifréquences ou multi-signaux. Cette capacité de réponse rapide réduit considérablement les cycles de test globaux, offrant une valeur significative pour les applications nécessitant des tests de production à grande échelle ou des simulations de scénarios complexes.

La configuration de la mémoire constitue un autre indicateur important de la capacité d'un émetteur-récepteur de signaux hautes performances à gérer de grands ensembles de données. Le PXIe-5820 est équipé de ressources DRAM et SRAM substantielles. Sa DRAM intégrée est divisée en deux banques indépendantes, chacune offrant une capacité de 2 Go avec un taux de transfert de données maximum théorique de 12 Go/s. Cela constitue une base solide pour traiter des ensembles de données massifs à des taux d’échantillonnage élevés. De plus, la SRAM de 2 Mo offre un stockage local à haut débit pour le FPGA, avec des vitesses de lecture et d'écriture maximales de 31 Mo/s et 29 Mo/s respectivement, prenant en charge un traitement efficace des données en temps réel et l'exécution d'algorithmes.

Pour l'entrée/sortie de signal, le PXIe-5820 offre des options de configuration flexibles. Il prend en charge les méthodes de couplage d'entrée CC et CA (via couplage par borne), s'adaptant à différents types de sources de signaux. L'interface d'entrée utilise le mode différentiel, améliorant l'immunité au bruit et permettant des mesures de signal plus précises. L'instrument dispose de deux canaux d'entrée, renforçant encore ses capacités de traitement et d'analyse du signal multicanal. L'impédance d'entrée différentielle est généralement de 100 ± 10 ohms, un paramètre critique pour garantir une transmission efficace du signal et minimiser la réflexion du signal.

En tant que module PXIe, le PXIe-5820 mesure 1,6 x 5,1 x 8,5 pouces et ne pèse que 1,8 livre (environ 0,82 kg). Cette conception compacte et légère facilite l'intégration dans le châssis PXIe, permettant la construction de systèmes de test et de mesure hautement modulaires et flexibles. Le facteur de forme peu encombrant permet aux ingénieurs de mettre en œuvre de puissantes capacités de test dans des espaces physiques limités.