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PCI-6517 Digital-IO-Modul Elektronische Testinstrumente Hochleistungsfähig Vielseitig

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PCI-6517 Digital-IO-Modul Elektronische Testinstrumente Hochleistungsfähig Vielseitig

PCI-6517 Digital Io Module Electronic Test Instruments High Performance Versatile
PCI-6517 Digital Io Module Electronic Test Instruments High Performance Versatile PCI-6517 Digital Io Module Electronic Test Instruments High Performance Versatile PCI-6517 Digital Io Module Electronic Test Instruments High Performance Versatile PCI-6517 Digital Io Module Electronic Test Instruments High Performance Versatile

Großes Bild :  PCI-6517 Digital-IO-Modul Elektronische Testinstrumente Hochleistungsfähig Vielseitig

Produktdetails:
Herkunftsort: CHINA
Markenname: National Instruments
Modellnummer: PCI-6517
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: Eins
Preis: $1,000/sets >=1 sets
Verpackung Informationen: Standardverpackung
Lieferzeit: Lieferzeit für Mindestbestellmenge ≤ 30 Tage
Zahlungsbedingungen: T/t ‌l/c
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 100 Einheiten/Tag
Kontakt Plaudern Sie Jetzt

PCI-6517 Digital-IO-Modul Elektronische Testinstrumente Hochleistungsfähig Vielseitig

Beschreibung
Garantie: 3 Monate Individuelle Unterstützung: OEM
Herkunftsort: amerikanisch brand name: National Instruments
Modellnummer: PCI-6517
Hervorheben:

PCI-6517 Digital-IO-Modul

,

PCI-6517 Elektronische Testinstrumente

,

Hochleistungsfähiges Digital-IO-Modul

Nationale Instrumente PCI-6517 Digitales E/A-Gerät mit individueller OEM-Unterstützung
Produktübersicht

Der NI PCI-6517 (Teilnummer: 779083-01) ist ein leistungsstarkes digitales Eingangs-/Ausgangsgerät mit 32 sinkenden Ausgangsleitungen mit Bankisolation und einer maximalen Schaltspannung von ±30 VDC.Konzipiert für vielseitige Anwendungen einschließlich allgemeiner Datenerfassung, automatisierte Fertigungstests und industrielle Kontrollsysteme.

Wesentliche Merkmale
  • 32 digitale Ausgangskanäle mit ±30 VDC-Schaltmöglichkeit
  • Bankisolation für eine verbesserte Signalintegrität
  • 37-Pin-Männlich-DSUB-E/A-Anschluss
  • Integrierte digitale Überwachung der Systemzuverlässigkeit
  • Funktionalität zur Veränderungserkennung für eine effiziente Ereignisüberwachung
  • Programmierbare Eingangsfilter zur Geräuschminderung
  • Kompatibel mit NI-DAQmx-Software und LabVIEW Entwicklungsumgebung
Technische Spezifikation
Parameter Spezifikation
Busanschluss PCI
Digitale Ausgangskanäle 32
Ausgangsspannung 0 V bis 30 V
Stromantrieb pro Kanal 125 mA
Maximaler Portstrom (8 Zeilen) 600 mA (75 mA pro Leitung)
Betriebstemperatur 0 °C bis 55 °C
Speichertemperatur 0 °C bis 55 °C
Luftfeuchtigkeit 10% bis 90% RH (Betrieb), 5% bis 95% RH (Speicherung)
Abmessungen 50,54 x 4,47 Zoll
Gewicht 2.5 Unzen
Erweiterte Funktionalität

Der PCI-6517 verfügt über einen digitalen I/O-Wachhund, der nach Systemfehlern wie PCI-Busstörungen, Computerabstürzen und Anwendungsfehlern sucht.Das Gerät tritt automatisch in einen sicheren Wiederherstellungsmodus ein. Die Veränderungserkennung ermöglicht die Auslösung von Anwendungen nach digitalen Ereignissen mit geringem Prozessorverbrauch.

Kompatibilität der Software

Das Gerät ist vollständig kompatibel mit der NI-DAQmx Treibersoftware und bietet Funktionen wie automatische Codegenerierung, DAQ Assistant und Multi-Threaded-Streaming-Technologie.Unterstützt die Programmierung über LabVIEW, LabWindows/CVI und andere Anwendungsentwicklungsumgebungen.

Produktbilder
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Größe und Tag:

nationale Instrumente pxi,

PXI-Digitalmultimeter,

elektronisches Prüfgerät

Kontaktdaten
Shenzhen Jinxi Boyuan Technology Co., Ltd.

Ansprechpartner: ALEXLEE

Telefon: +86 15626514602

Senden Sie Ihre Anfrage direkt an uns (0 / 3000)

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