여러분이 복잡한 회로판에 문제를 해결하는 전자 엔지니어라고 상상해 보세요. 오실로스코프는 여러분의 주요 진단 도구입니다.그 효과는 전속으로 연결하는 프로브에 전적으로 달려 있습니다.프로브는 테스트 중인 장치와 측정 기기 사이의 중요한 다리로 작용하며, 그 성능은 직접적으로 결과의 정확성과 신뢰성을 결정합니다.
오실로스코프 프로브는 테스트 회로에서 신호를 오실로스코프로 전송하여 표시 및 분석합니다. 전형적인 프로브는 세 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다.론드 헤드 (테스트 포인트 연결을 포함), 유연한 케이블, 그리고 오실로스코프 입력과 연결되는 커넥터
그러나 이 연결은 완벽하지 않습니다. 모든 탐사선은 회로 작동에 어느 정도 영향을 미칩니다. 그리고 오실로스코프는 탐사선이 제공하는 것을만 표시할 수 있습니다.이상적인 프로브는 신호 충실성을 완벽하게 보존하면서 회로에 최소한의 영향을 미칠 것입니다이 두 영역의 타협은 잘못된 측정 결과를 초래할 수 있습니다.
간편한 연결이 바람직하지만 모든 응용 프로그램에 적합한 단일 탐사선은 없습니다. 소형 탐사 헤드와 전문 어댑터는 고밀도 표면 장착 기술 (SMT) 에서 가장 잘 작동합니다.산업용 전력 회로에서는 더 큰 안전 범위와 더 큰 탐사기를 요구합니다.현재 측정은 완전히 다른 클램프 스타일의 탐사기를 필요로 합니다.
대부분의 프로브에는 표준 액세서리가 포함되어 있습니다. 토지 클립, 보상 조정 도구 및 테스트 포인트 연결을 용이하게하기 위해 다양한 끝 첨부 장치.
완벽한 신호 성실성은 0의 약화, 무한한 대역폭, 모든 주파수에서 선형 단계 반응이 필요합니다.탐사선택은 네 가지 주요 사양에 초점을 맞추고 있습니다.:
각 프로브는 평행 저항 (R) 으로 모델링된 어떤 정도로 테스트 된 회로를 부하합니다.p용량 (C)p(3) 세 가지 부하 효과는 특히 주목되어야 합니다.
부하를 최소화하기 위해서는 신중한 탐사선 선택과 측정점 선택이 필요합니다. 낮은 임피던스 테스트 포인트 (트랜지스터 방출기와 같은) 는 일반적으로 높은 임피던스 노드보다 탐사를 더 잘 견딜 수 있습니다.
형광등, 모터 등으로부터의 환경 소음으로 인해 측정이 손상될 수 있다. 대부분의 탐사선은 소음을 최소화하기 위해 땅으로 보호된 동축 케이블을 사용한다.일반적인 신호 수준에 효과적이지만, 매우 낮은 수준의 측정은 일반 모드 소음을 처리하기 위해 전문 차원 탐사선을 필요로 할 수 있습니다.
오직 수동적인 구성 요소 (항항, 콘덴서, 케이블) 를 포함하고 있는 이 저렴한, 견고한 프로브는 넓은 역학적 범위를 제공하지만 더 높은 입력 용량으로 고통받습니다. 일반적인 구성은 다음을 포함합니다.
증폭기 (전력을 필요로 하는) 를 통합하여, 이들은 우수한 대역폭과 낮은 입력 용량을 제공하지만 제한된 전압 범위에서 더 높은 비용으로.그 콤팩트 한 끝 은 표면 에 장착 된 장치 를 탐구 하는 데 탁월 합니다.
| 사양 | 패시브 프로브 (P2221 10X) | 액티브 프로브 (TAP1500) |
|---|---|---|
| 약화 | 10X | 10X |
| 대역폭 | 200MHz | 1500 MHz |
| 입력 용량 | 17pF | ≤1pF |
| 최대 입력 전압 | 300V RMS | ±8V |
서로 참조되는 신호를 측정하는 데 필수적인 (지구가 아닌) 이들은 높은 주파수 미분 신호를 보존하면서 공통 모드 소음을 거부하기 위해 일치된 내부 증폭기를 사용합니다.
이 장치들은 전류를 측정하기 위해 전도기 주위의 자기장을 감지하여 그 전압을 비례 전압으로 변환합니다. 두 가지 주요 유형이 있습니다.
정확한 측정에 적절한 수동 탐사 보상이 필수적입니다. 이 조정은 탐사기의 AC 저하를 특정 오실로스코프 입력과 일치시킵니다.
서로 다른 연결 방식은 다른 시나리오에 적합합니다.
올바른 오실로스코프 프로브를 선택하는 것은 신호 특성, 측정 요구 사항 및 회로 제약에 대한 신중한 고려가 필요합니다. 프로브 사양을 이해함으로써,부하 효과, 그리고 응용 프로그램에 특화된 설계, 엔지니어들은 다양한 전자 테스트 시나리오에서 측정 정확성을 보장 할 수 있습니다.
담당자: Mr. ALEXLEE
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