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Kundenspezifisches OEM PXIe-5172 Digitales Oszilloskop mit hoher Dichte und 250 MS/s Abtastrate

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China Shenzhen Jinxi Boyuan Technology Co., Ltd. zertifizierungen
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Kundenspezifisches OEM PXIe-5172 Digitales Oszilloskop mit hoher Dichte und 250 MS/s Abtastrate

Customized OEM PXIe-5172 Digital Oscilloscope High Density 250MS/S Sampling Rate
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Großes Bild :  Kundenspezifisches OEM PXIe-5172 Digitales Oszilloskop mit hoher Dichte und 250 MS/s Abtastrate

Produktdetails:
Herkunftsort: CHINA
Markenname: National Instruments
Modellnummer: PXIE-5172
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: Eins
Preis: $10,000/sets >=1 sets
Verpackung Informationen: Standardverpackung
Lieferzeit: Lieferzeit für Mindestbestellmenge ≤ 30 Tage
Zahlungsbedingungen: T/t ‌l/c
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 100 Einheiten/Tag
Kontakt Plaudern Sie Jetzt

Kundenspezifisches OEM PXIe-5172 Digitales Oszilloskop mit hoher Dichte und 250 MS/s Abtastrate

Beschreibung
Garantie: 3 Monate Individuelle Unterstützung: OEM
Herkunftsort: amerikanisch brand name: National Instruments
Modellnummer: PXIE-5172
Hervorheben:

Kundenspezifisches PXIe-5172 Digitales Oszilloskop

,

Digitales PXIe-5172 Oszilloskop mit hoher Dichte

,

PXIe-5172 National Instruments

Individuelle OEM-Unterstützung Nationale Instrumente PXIe-5172 Dichte-Oszilloskop für Dichte-Anwendungen
Das National Instruments PXIe-5172 High-Density Oscilloscope (Teilnummern: 784224-01, 784225-01,784226-01) ist mit dem Measurement and Automation Explorer (MAX) für die Hardware von National Instruments konfiguriert.. MAX kommuniziert mit Instrumentenkonstruktionsbibliotheken und NI-SCOPE-Treibersoftware, um verfügbare Geräte und ihre Konfigurationen zu identifizieren.
Kalibrierungsanforderungen
Bei Fabrikkalibrierung sollten die Benutzer die Selbstkalibrierung unter folgenden Bedingungen durchführen:
  • Bei der ersten Einführung des NI PXIe-5172 in sein Fahrwerk
  • Nach der Installation, dem Entfernen oder der Verlegung von Rahmenmodulen
  • Bei Betrieb in Umgebungen mit Temperaturunterschieden von mehr als ±5°C ab Kalibriertemperatur
  • Periodisch, um geringfügige Leistungsverschiebungen aufgrund der Alterung von Bauteilen auszugleichen
Fortgeschrittene Konstruktionsmerkmale
Das Oszilloskop PXIe-5172 verfügt über innovative Technologien wie:
  • ADC mit geringer Leistung und hoher Auflösung
  • JESD204B Schnelle serielle Schnittstelle für die Datenübertragung
  • Effiziente Nutzung der Xilinx-Ressourcen
  • Kompaktes und robustes Design für Prüfautomationssysteme
Technische Spezifikation
Busanschluss PXI Express
Impedanz der analogen Eingabe 1 MΩ, 50 Ω
Maximale Bandbreite 100 MHz
Höchstmengen der Probenahme 250 MS/s
Analog-Eingangsspannungsbereich -40 V bis 40 V
Analog-Eingabeauflösung 14 Bit
CableSenseTM Nicht verfügbar
Kundenspezifisches OEM PXIe-5172 Digitales Oszilloskop mit hoher Dichte und 250 MS/s Abtastrate 0

Größe und Tag:

AC-Stromoszilloskop,

Oszilloskop-Tastkopf,

Oszilloskop-Tastsonde

Kontaktdaten
Shenzhen Jinxi Boyuan Technology Co., Ltd.

Ansprechpartner: ALEXLEE

Telefon: +86 15626514602

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