블로그 에 대한 NI PXI 단위 는 전자 의 시험 효율 과 정확성 을 향상 시킨다

오늘날 급속도로 발전하고 있는 전자 산업에서 엔지니어들은 계속해서 번거로운 테스트 절차, 긴 테스트 사이클, 그리고 제한된 장비 공간과 싸우고 있습니다.제품 개발 순환이 가속화됨에 따라, 테스트 효율성과 정확성은 혁신을 방해할 수 있는 중요한 병목으로 나타났습니다.표준 시험 장비 를 몇 인치 의 공간 에 단축 시키면서 전례 없는 측정 속도 와 정확성 을 달성 하는 비전 은 더 이상 먼 꿈 이 아니다.

방대한 테스트 장비의 시대는 끝나고 있습니다. 현대 모듈형 테스트 시스템은 이제 단 하나의 컴팩트 차시 내에 최대 408개의 소스 측정 단위 (SMU) 채널을 통합할 수 있습니다.이전에는 전체 장비 래크가 필요했던 것을 단지 몇 인치의 공간으로 압축합니다.이 고밀도 통합은 귀중한 실험실 또는 생산 바닥 부동산을 보존 할뿐만 아니라 더 중요한 것은 테스트 시스템의 확장성을 향상시킵니다.그 결과 생산량이 증가하고 새로운 제품의 시장 진출 시간이 빨라집니다..

복잡한 테스트 시나리오는 여러 기기 간의 정확한 조화를 요구합니다.현대 SMU 솔루션은 여러 장치에서 무선 이벤트 및 트리거 공유를 촉진하는 정교한 탑재 하드웨어 시퀀싱 엔진을 통합합니다.이 동기화 능력은 모든 도구가 정확하게 조정된 순간에 작업을 수행하도록 보장합니다.통신 지연 또는 타이밍 오류로 인한 테스트 변동성을 제거하면서 테스트 안정성과 효율성을 크게 향상시킵니다..

전통적인 고정 매개 변수 소스 측정 접근법은 테스트 중인 다른 장치의 고유한 특성을 수용하기 위해 종종 어려움을 겪습니다.현대 시스템은 적응 반응 기술을 통해 이 문제를 해결합니다. 이는 모든 장치에 대한 일시적 행동의 사용자 정의를 허용합니다.이 지능형 조정 기능은 테스트 속도와 안정성을 극대화하면서 초과 조건을 방지합니다.이 기술은 맞춤형 회로의 필요성을 제거하면서 동시에 매개 변수 불일치로 인한 장치 손상 위험을 줄임으로써 테스트 구성을 단순화합니다..

테스트 개발을 가속화하기 위해, 고급 소프트웨어 솔루션은 이제 프로그래밍을 필요로 하지 않고 상호 작용적인 IV 스캔 구성을 제공합니다.이 직관적인 인터페이스는 개발 시간을 크게 줄입니다., 특히 빠른 프로토타입 제작 및 예비 성능 분석에 유용합니다.구성은 자동 테스트 실행을 위해 표준 프로그래밍 환경에 원활하게 수출 할 수 있습니다..

전통적인 DC 전력 공급은 고전력 장치를 테스트 할 때 열 및 전력 제한에 직면합니다.차세대 테스트 시스템은 일정한 DC 공급 대신 펄스 전류 및 전압 측정을 지원함으로써 이러한 한계를 극복합니다.이 접근 방식은 광범위한 열 관리 인프라를 필요로 하지 않고 동시에 전력 소비를 줄이는 동시에 높은 즉각적인 전력 테스트를 가능하게 합니다.이 능력은 전력 반도체 테스트에 특히 유용합니다., LED 드라이버 및 유사한 고전류 응용 프로그램.

복잡한 테스트 환경은 종종 일련 또는 병렬 구성에서 작동하는 여러 전원, 전자 부하 및 측정 기기의 신중한 관리를 요구합니다.적절한 기술과 최상의 관행은 측정 정확도를 손상시키지 않고 또는 원치 않는 유물을 도입하지 않고 원하는 출력 전력 수준을 달성 할 수 있도록합니다..

현대 테스트 플랫폼은 하드웨어 이상의 영역을 확장하여 개발을 원활하게하는 포괄적인 소프트웨어 도구를 제공합니다.

• 인터랙티브 제어 소프트웨어는 직관적인 그래픽 인터페이스를 통해 통일 된 기기 관리를 제공합니다.
• 광범위한 코드 예제를 가진 도구 드라이버는 여러 프로그래밍 언어의 개발을 가속화합니다.

이러한 통합 솔루션은 정확성, 효율성 및 유연성을 결합하여 엔지니어들이 엄격한 테스트 표준을 유지하면서 급속한 기술 발전의 과제를 해결하는 데 도움이됩니다.