ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ที่พัฒนาอย่างรวดเร็วในปัจจุบัน วิศวกรยังคงต้องเผชิญกับวิธีการทดสอบที่คับคั่งเมื่อวัฏจักรการพัฒนาสินค้าเร่งขึ้นการทดสอบประสิทธิภาพและความแม่นยํา ได้ปรากฏขึ้นเป็นข้อขัดขวางที่สําคัญที่สามารถขัดขวางการนวัตกรรมมุมมองของการบดความเร็วและความแม่นยําในการวัดที่ไม่เคยมีมาก่อนในขณะเดียวกันในพื้นที่เพียงไม่กี่นิ้ว.
ยุคของอุปกรณ์การทดสอบขนาดใหญ่กําลังจะสิ้นสุด ระบบการทดสอบแบบโมดูเลอร์ที่ทันสมัยตอนนี้ทําให้สามารถบูรณาการถึง 408 ช่องช่องหน่วยการวัดแหล่ง (SMU) ภายในชัสซีขนาดเล็กเดียวการยืดหยุ่นสิ่งที่ก่อนหน้านี้ต้องการ rack อุปกรณ์ทั้งหมดในพื้นที่เพียงแค่นิ้วการบูรณาการความหนาแน่นสูงนี้ไม่เพียงแต่อนุรักษ์อสังหาริมทรัพย์ที่คุ้มค่าในห้องปฏิบัติการหรือพื้นการผลิตผลลัพธ์คือการเพิ่มปริมาณการผลิตและเวลาในการตลาดที่เร็วขึ้นสําหรับสินค้าใหม่.
สถานการณ์การทดสอบที่ซับซ้อนต้องการการประสานงานที่แม่นยําระหว่างเครื่องมือหลายเครื่องโซลูชั่น SMU สมัยใหม่รวมเครื่องยนต์เรียงลําดับฮาร์ดแวร์ดภายในเครื่องยนต์ที่มีความซับซ้อนที่อํานวยความสะดวกในการแบ่งปันเหตุการณ์และกระตุ้นได้อย่างต่อเนื่องในหลายอุปกรณ์ความสามารถในการร่วมกันนี้รับประกันว่าเครื่องมือทั้งหมดดําเนินการในช่วงเวลาที่ประสานกันอย่างแม่นยําการกําจัดความแตกต่างในการทดสอบที่เกิดจากความช้าในการสื่อสารหรือความผิดพลาดการกําหนดเวลา โดยปรับปรุงความมั่นคงและประสิทธิภาพการทดสอบให้ดีขึ้นอย่างมาก.
แนวทางการวัดแหล่งปารามิเตอร์คงที่แบบดั้งเดิมมักจะพยายามที่จะรองรับลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์ที่แตกต่างกันอยู่ภายใต้การทดสอบระบบที่ทันสมัยแก้ปัญหานี้ผ่านเทคโนโลยีการตอบสนองแบบปรับตัว ที่ทําให้สามารถปรับเปลี่ยนพฤติกรรมชั่วคราวได้ สําหรับอุปกรณ์ใดก็ได้ความสามารถในการปรับที่ฉลาดนี้ทําให้ความเร็วในการทดสอบและความมั่นคงสูงสุดในขณะที่ป้องกันภาวะเกินขั้นเทคโนโลยีนี้ทําให้การตั้งค่าการทดสอบง่ายขึ้น โดยกําจัดความจําเป็นในการใช้วงจรที่กําหนดเอง และในขณะเดียวกันก็ลดความเสี่ยงของการเสียหายของอุปกรณ์จากปริมาตรที่ไม่ตรงกัน.
เพื่อเร่งการพัฒนาการทดสอบ โซฟต์แวร์ที่ทันสมัยในขณะนี้สามารถให้บริการระบบสแกน IV ที่มีปฏิสัมพันธ์ได้ โดยไม่ต้องใช้โปรแกรมใดๆอินทิวเทชั่นนี้ช่วยลดเวลาในการพัฒนาโดยเฉพาะอย่างยิ่งสําหรับการทําต้นแบบอย่างรวดเร็วและการวิเคราะห์ผลการทํางานเบื้องต้น เมื่อพร้อมสําหรับการทดสอบการผลิตการตั้งค่าสามารถนําไปส่งออกได้อย่างต่อเนื่องไปยังสภาพแวดล้อมการเขียนโปรแกรมมาตรฐานเพื่อการดําเนินการทดสอบอัตโนมัติ.
การจัดส่งพลังงานแบบ DC แบบปกติต้องเผชิญกับข้อจํากัดด้านความร้อนและพลังงานในการทดสอบอุปกรณ์พลังงานสูงระบบทดสอบรุ่นใหม่สามารถแก้ไขข้อจํากัดเหล่านี้ได้ โดยรองรับการวัดกระแสไฟฟ้าและแรงดันด้วยกระแสไฟฟ้าแนวทางนี้ทําให้การทดสอบพลังงานทันทีสูงได้ โดยไม่จําเป็นต้องใช้พื้นฐานการจัดการความร้อนที่กว้างขวางในขณะเดียวกันลดการบริโภคพลังงานความสามารถจะพิสูจน์ว่ามีค่าโดยเฉพาะอย่างยิ่งสําหรับการทดสอบครึ่งประสาทพลังงาน, ไดรฟ์ LED และการใช้งานกระแสไฟฟ้าสูงคล้ายกัน
สํานักวิจัย IMEC:การนําระบบการทดสอบแบบโมดูลมาใช้งานได้ลดต้นทุนลงถึง 75% ขณะที่การทดสอบกระบวนการกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระเบื้องกระ
การพัฒนาเทคโนโลยีจอ:เนื่องจากขนาดชิปมินิเอลอีดียังคงลดลง จํานวนการทดสอบในระดับเวฟเฟอร์เพิ่มขึ้นเป็นสิบล้านระบบการทดสอบแบบโมดูล ทําให้ผู้ผลิตสามารถตอบสนองความต้องการในการผลิตได้ในขณะที่พัฒนาเทคโนโลยีจอรุ่นใหม่.
สภาพแวดล้อมการทดสอบที่ซับซ้อนมักต้องการการบริหารจัดการอย่างละเอียดของแหล่งพลังงานหลาย ๆ ตัว, อิเล็กทรอนิกส์ภาระ, และอุปกรณ์การวัดที่ทํางานในชุดหรือการปรับปรุงคู่เคียงเทคนิคที่เหมาะสมและวิธีปฏิบัติที่ดีที่สุดทําให้ระดับพลังงานผลิตที่ต้องการสามารถบรรลุได้ โดยไม่เสี่ยงความแม่นยําของการวัดหรือนําเสนอสิ่งประดิษฐ์ที่ไม่ต้องการ.
แพลตฟอร์มการทดสอบที่ทันสมัยขยายไปนอกจากฮาร์ดแวร์ โดยนําเสนอเครื่องมือซอฟต์แวร์ครบวงจรที่ทําให้การพัฒนาเรียบง่าย:
การแก้ไขที่บูรณาการเหล่านี้รวมความแม่นยํา ประสิทธิภาพ และความยืดหยุ่น เพื่อช่วยให้วิศวกรสามารถดําเนินการต่อสู้กับความท้าทายของความก้าวหน้าทางเทคโนโลยีอย่างรวดเร็ว โดยยังคงมีมาตรฐานการทดสอบที่เข้มงวด
ผู้ติดต่อ: Mr. ALEXLEE
โทร: +86 15626514602
Thai
