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E4727B Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência com Capacidade de Corrente de 1A

Certificado
China Shenzhen Jinxi Boyuan Technology Co., Ltd. Certificações
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E4727B Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência com Capacidade de Corrente de 1A

E4727B Keysight Noise Analyzer Low Frequency With 1A Current Capability
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Imagem Grande :  E4727B Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência com Capacidade de Corrente de 1A

Detalhes do produto:
Lugar de origem: CHINA
Marca: Keysight
Número do modelo: E4727B
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: Um
Preço: $10,000
Detalhes da embalagem: Embalagem padrão
Tempo de entrega: Tempo de entrega para quantidade mínima de pedido ≤ 30 dias
Termos de pagamento: T/t ‌l/c
Habilidade da fonte: 100 unidades/dia
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E4727B Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência com Capacidade de Corrente de 1A

descrição
Marca: Keysight Modelo: E4727B
Aplicativo de modelagem de equipamentos: Medição de ruído de baixa frequência Frequência máxima: 100 MHz
Função de medição:: Ruído de cintilação Ruído telegráfico aleatório
Destacar:

E4727B Analisador de Ruído Keysight

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Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência

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E4727B Analisador de Ruído de Baixa Frequência

Analisador avançado de ruído de baixa frequência E4727B da Keysight
O analisador avançado de ruído de baixa frequência E4727B fornece insights mais profundos sobre ruído de baixa frequência quando integrado ao WaferPro Express, oferecendo análise de dados abrangente, controle de sonda de wafer e recursos de automação de conjunto de testes.
Principais recursos
  • Integrado com PathWave WaferPro (WaferPro Express) para medições de ruído prontas para uso, incluindo características DC, capacitância e parâmetros S de RF
  • O LNA recém-projetado permite a medição de ruído de dispositivo extremamente baixo, incluindo ruído de região linear de transistor
  • Capaz de medições de ruído em correntes de polarização muito baixas
  • Capacidade de medição de ruído de dispositivos de alta potência (até 1A)
  • Velocidades de medição rápidas com médias múltiplas para maior eficiência com alta precisão
  • Módulo de software abrangente para medição e análise de características DC, ruído 1/f e ruído telegráfico aleatório
Capacidades detalhadas
Recurso Descrição / Capacidade
Integração de software A integração perfeita com o software PathWave WaferPro (WaferPro Express) permite soluções prontas para uso para medições de ruído, características DC, capacitância e parâmetros S de RF.
Sensibilidade de medição O LNA recém-projetado permite medições de ruído de dispositivo extremamente baixas, como ruído de região linear de transistor e medições em correntes de polarização muito baixas.
Capacidade de alta potência Capaz de medir ruído de dispositivos de alta potência sob condições de alta corrente (por exemplo, até 1A).
Velocidade de medição A rápida velocidade de medição melhora a produtividade, mesmo sob condições de alta precisão que exigem médias extensas.
Módulo de Análise de Software O módulo de software dedicado mede características DC, ruído 1/f e ruído telegráfico aleatório (RTN) e realiza análise de dados.
E4727B Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência com Capacidade de Corrente de 1A 0
Analisador avançado de ruído de baixa frequência E4727B da Keysight
E4727B Analisador de Ruído Keysight de Baixa Frequência com Capacidade de Corrente de 1A 1
Interface de medição do Analisador E4727B

Contacto
Shenzhen Jinxi Boyuan Technology Co., Ltd.

Pessoa de Contato: ALEXLEE

Telefone: +86 15626514602

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