National Instruments PXIe-5114 Ni PXI Oszilloskop 250 MS/s Abtastrate 125 MHz Bandbreite

Das PXI-Oszilloskop PXIe-5114 von National Instruments (Teilenummern: 783591-01, 783591-02 und 783591-03) verfügt über zwei Kanäle mit Abtastraten von bis zu 250 MS/s pro Kanal sowie einstellbarer Kopplung, Impedanz, Spannungsbereich und Filtereinstellungen. Dieses Modell ist ideal für Anwendungen, die eine schnelle Signalverarbeitung und ein flexibles Messdesign erfordern, mit einer maximalen Datenübertragungsfähigkeit von 125 MHz.

• Flanke, Fenster, Hysterese und erweiterte Triggerung mit 40-ps-Zeitstempel
• Pre-Trigger- und Post-Trigger-Erfassung im Einzel- und Mehrfachaufzeichnungsmodus
• Interner 250-MHz-Takt oder externer 50- bis 250-MHz-Takt
• Phasensynchronisiert mit PXI-10-MHz-Referenz oder externer Referenz von 1 bis 20 MHz
• Zeitstempel-Triggerereignisse mit einer Auflösung von 100 ps
• IVI-kompatibler NI-SCOPE-Treiber für NI LabVIEW und LabWindows/CVI, mit Unterstützung für Microsoft C++, Measurement Studio und Visual Basic
• NI-SCOPE-Software-Frontpanel für intuitive Steuerung

• Gewicht: 17,7 Unzen
• Abmessungen: 8,4 x 0,8 x 5,1 Zoll
• Betriebstemperatur: 0 °C bis 55 °C
• Lagertemperatur: -40 °C bis 71 °C
• Vibration im Betrieb/im Ruhezustand: 0,3 g/2,4 g (5 Hz bis 500 Hz)

Das NI-SCOPE Soft-Frontpanel (SFP) ermöglicht eine intuitive Steuerung des PXIe-5114, wobei Version 14.1 die bequemste intelligente Steuerung bietet. Das Tool NI Measurement Automation Explorer (MAX) bietet interaktive Konfigurations- und Testfunktionen. Es wird eine Aufwärmzeit von 15 Minuten empfohlen, wobei eine externe Kalibrierung alle zwei Jahre empfohlen wird.

3 BNC-Buchsen, 1 SMB-Buchse und 1 9-poliger Mini-Rund-DIN-Stecker. Gesamtstromverbrauch: 21,63 W.